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电子束离子束双束电镜系统 SOLARIS GMH

发布人:许蔚    发布时间:2024-10-10     点击:

       

中文名:电子束离子束双束电镜系统

英文名:Electron/Focus Ion Dual Beam System

仪器型号:SOLARIS GMH

设备分类:测试设备

房间:D111

负责人:苏 俊


生产厂家:

捷克泰思肯(TESCAN)公司

仪器介绍:

聚焦离子束-电子束双束电镜(SOLARIS GMH)具有较高分辨率,能进行各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理,可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。该电镜广泛用于金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、生物学、医学、考古和文物鉴定分析。此外,近期配备能谱仪(EDS)之后,还可用于样品表面和一定深度的元素定量、定性分析,多元素面扫描和线扫描分布测量。

技术规格及参数:

1、离子镜筒部分(Ga离子源)

   束流强度:1pA–100nA

   离子束分辨率:30kV时2.5nm(统计分辨率)

   离子束加速电压范围:500V-30kV

   最大视野:1mm@10kev

2电子镜筒部分

   电子枪:热场发射电子枪

   电子束最佳分辨率:15kV时0.6nm; 1kV 时0.9nm

   电子束在离子束交汇点分辨率:15kV时0.9 nm,1kV时2nm

   电子束束流:2pA-400nA

视野范围:4.3 mm@WD=5mm, >10 mm 在最大工作距离时

3样品全观察范围:达到8英寸晶圆。配备8英寸晶圆相应的解决方案

4样品台和样品室 Z轴移动行程样品台倾斜范围:-10°到+ 60° 旋转:计算机控制优中心360° 最大样品高度:132mm(不安装旋转台) 最大样品尺寸:直径 180mm

5 配置样品交换仓load lock

6气体注入系统 已有Ga离子源 配备单只气体注入系统:Pt气源

7机械手 机械手行程范围X=11mm, Y=6mm, Z=12mm,移动精度达到5nm,移动速度100 nm/s~ 3 mm/s。

8探测器部分 配备样品室ETD探测器 样品室可伸缩背散射电子探测器 镜筒内探测器2个,分别为镜筒内轴向探测器和镜筒内多功能探测器 配备STEM探测器,分辨率0.5nm@30kv

9电致冷能谱仪 电制冷探测器,,有效晶体面积60mm2,超薄窗设计,独立真空; 能量分辨率:在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于127eV,轻元素分辨率:C-K/57eV, F-K/67eV; 元素分析范围: Be4~Cf98

收费标准:

SEM: 校内:400元/小时,校外:800元/小时

FIB:   校内:800元/小时,校外:1600元/小时

EDS: 点、线、面扫免费

                           

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