微纳平台开展光谱椭偏仪讲座与培训活动

为更好的了解仪器的性能，服务于师生的科研工作，微纳工艺与表征平台于3月1日邀请了美国J.A.Woollam公司应用工程师苏慧荣来校进行了光谱椭偏仪的使用、分析方面的讲座与培训。

苏慧荣首先对光谱椭偏仪的构建原理、使用方法、分析过程中参数的选择进行了详细的讲解，随后在微纳平台超净间对一些非常规样品进行了现场操作演示培训。通过本次讲座培训，使师生们对该仪器有了更深入的了解，有助于提高设备的使用效率和准确性。

光谱椭偏仪作为一种用于探测薄膜厚度和光学参数及材料微结构的非接触式的测量仪器，在光电纳米材料研究中得到了广泛的应用。