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测试设备
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  • 设备分类：测试设备     型号：Nova NanoSEM 450 FP2053/45     房间：D111 简介：以波长极短的电子束聚焦后在样品表面扫描，接收从样品表面激发出的二次电子信号成像。主要用于观察固体表面的形貌，也能与EBSD或电子能谱仪相结合，构成电子微探针，用于物质成分分析。 查看更多
  • 设备分类：测试设备     型号：Quanta 3D FEG SEM/FIB     房间：D111 简介：SEM/FIB双束系统主要用于在金属、半导体、电介质、多层膜结构等固体样品上制备微纳结构。同时，配备纳米机械手之后，可以定点制备TEM样品，此仪器是探索决定物质表观特性微观本质的强有力工具。 查看更多
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